技术分享 | 电阻失效分析：阻值变大导致不良
NO.1 案例背景
某产品测试过程中发生功能不良，初步分析不良是因为电阻阻值变大导致。
注：电阻阻值标称值为1KΩ，实际达到几十或几百KΩ。
NO.2 分析过程
针对原始失效电阻的分析
电阻#1
电阻#2
01
34.22 KΩ 电阻#1
万用表检测
1.693KΩ 电阻#2
失效品金属膜面均有损伤，且阻值均变大失效。
02
电阻#1
X-Ray检测
电阻#2
失效品电阻膜中间位置有扩散性损伤，其中电阻#1有明显的烧损损伤特征，即中心扩散，类似圆形区域。
03
电阻#2 切片分析
通过对电阻#2进行切片断面分析，发现在电阻膜中间位置有明显的缺损损伤，其他位置电阻膜状态良好。
04
电阻#1 开封分析
通过对电阻#1进行开封分析，发现电阻膜层有明显的烧损状态。
针对失效复现电阻的分析
电阻#3
电阻#4
01
电压阶跃性测试
通过电阻失效复现，存在电阻EOS击穿的可能性。当有过电流作用于电阻时，验证出电阻阻值变大失效现象。
02
X-Ray检测
复现验证发现，复现品与原始失效样品相比，外观及X-Ray检测的结果基本一致，均在电阻膜位置发生了部分缺损。
03
电阻#3 切片分析
电阻#3失效点状态VS电阻#1失效点状态
对复现品进行切片分析，其损伤状态与电阻#2切片状态一致，损伤界面特征相同。
04
电阻#4 开封分析
对电阻#4进行开封分析，电阻膜层有明显的烧损状态。
No.3分析结果
Analysis results
综合以上分析，推断电阻阻值变大失效的原因：
在产品测试过程中，电阻受到EOS冲击，过流的可能性较大，电阻膜烧损导致失效。
不良解析
1.通过X-Ray及开封分析，可以看到电阻膜层有明显的烧损，其特征呈现部分烧断、中心扩散的特点。
2.通过失效电阻的切片断面分析，电阻膜失效点的金属膜完全损伤，呈断开状态。
如下图所示：
3.通过电阻EOS的失效验证，验证复现失效品，电阻阻值变大。通过X-RAY分析，其电阻膜损伤状态与失效原始样品一致。分别对其进行的切片及开封分析，失效特征与原始失效样品基本一致。
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